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密 封 线 2007年度特种设备无损检测RT Ⅲ级人员 专业理论考核试卷 (开 卷) （参考答案） 成绩： 题号 题 型 分值 扣分 阅卷人签章 一 是非题 30 二 单项选择题 20 三 多项选择题 15 四 工艺题 15 五 综合题 20 总 计 100 2007年6月18日 北京 全国特种设备无损检测人员资格考核委员会 一、是非题（在括号内，正确的画○，错误的画×，每题1.5分，共30分） 1．JB/T 4730.1－2005标准规定：无损检测通用工艺规程应根据相关法规、产品标准、有关的技术文件和JB/T4730的要求，并针对检测机构的特点和检测能力进行编制。
（ ○ ） 2．按JB/T 4730.2－2005标准规定，对小径管对接焊接接头内凹和内咬边的深度进行测定时，对比试块的选择与检测技术级别无关。
（ ○ ） 3．JB/T 4730.2－2005标准规定：Co-60射线照相时，增感屏厚度的选择不仅与检测的技术级别有关，而且还与增感屏材料的种类有关。
（ ○ ） 4．按JB/T 4730.2－2005标准规定，黑度计可测量的最大黑度应不大于4.5，测量的误差应不超过±0.05 。
（ × ） 5．对一根规格为Φ159×5.5mm，焊缝余高为1.5mm,垫板厚度为2mm的管子环向对接接头，采用AB级检测技术双壁单影100％射线照相，按JB/T 4730.2－2005标准规定，底片上至少应识别的丝号是13号（0.20 mm）。
（ × ） 6．JB/T 4730.2－2005标准规定：承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术要求时，经技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用高类别的胶片）后可采用A级检测技术进行检测，但底片的像质计灵敏度应达到AB级射线检测技术的规定。
（ × ） 7．按JB/T 4730.2－2005标准规定，现场进行γ射线检测时，应按GB 18465的规定划定控制区和管理区、设置警告标志，检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩戴个人剂量计，并携带剂量报警仪。
（ × ） 8．对一根Φ108×5mm，焊缝宽度为10mm的管子环向对接接头100％射线照相时，按JB/T 4730.2－2005标准规定，应采用垂直透照重叠成像，相隔120°或60°透照3次。
（ × ） 9．JB/T 4730.1－2005标准规定：当应用高能X射线照相时，必须采用高梯度噪声比的胶片。
（ ○ ） 10．按JB/T 4730.1－2005标准规定，X射线实时成像检测不适用于承压设备对接接头的实时快速检测。
（ × ） 11．按JB/T 4730.2－2005标准要求，识别标记和定位标记的放置部位应符合附录G（规范性附录）的规定。
（ × ） 12．按JB/T 4730.2－2005标准规定，γ射线源的透照厚度范围不仅取决于射线源的种类，而且还与检测的技术级别有关。
（ ○ ） 13．JB/T 4730.2－2005标准规定：为控制一次透照长度，透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心。
（ × ） 14．JB/T 4730.2－2005标准规定：当T/DO＞0.12时，应相隔120°或60°透照3次，这一规定的理由是：相隔120°比相隔60°透照3次更有利于对不同部位缺陷的检出。
（ ○ ） 15．JB/T 4730的本部分不排斥其他无损检测方法的应用，当采用未列入JB/T 4730的本部分规定的无损检测方法时，使用该技术进行检测的单位应向全国锅炉压力容器标准化技术委员会提交有关资料，经评审形成标准案例。
（ ○ ） 16．按JB/T 4730.2－2005标准规定，像质计灵敏度、胶片类别的选择、最高管电压的限定、射线源至工件表面的最小距离以及曝光量的确定，均与检测的技术等级有关。
（ × ） 17．JB/T 4730.2－2005标准规定：胶片按照系统进行分类，因此当采用γ射线照相时，该标准未对胶片的灰雾度值加以限定。
（ × ） 18．JB/T 4730.2－2005标准对胶片的处理推荐采用自动冲洗方式，其主要目的是防止胶片在处理过程中被污染。
（ × ） 19．按JB/T 4730.2－2005标准规定，对管外径DO≤100mm的小径管，缺陷的评定区应取10×10mm。
（ × ） 20．按JB/T 4730.2－2005标准规定，铝制承压设备熔化焊焊接接头中只要存在夹铜缺陷，该焊接接头必须评为Ⅳ级。
（ ○ ） 二、单项选择题（将唯一正确答案的序号填在括号内，每题2分，共20分） 1．下列关于对JB/T 4730.2－2005标准4·1·1条有关透照方式规定的理解，不正确的是（ D ）。
A、与其他透照方式相比较，采用单壁透照灵敏度最高。
B、与其他透照方式相比较，环向对接焊接接头采用中心透照能够最大限度地减小横向裂纹检出角。
C、与其他透照方式相比较，采用单壁透照能减少由于高电压所造成的底片对比度下降。
D、与其他透照方式相比较，采用单壁透照在检测过程中最容易实施。
2．按JB/T 4730.2－2005标准，下面哪些规定未涉及到检测的技术等级（ B ） A、采用X射线透照小径管或其他截面变化大的工件时，允许降低底片黑度值的规定。
B、γ射线源透照时，总的曝光时间的规定。
C、采用多胶片技术，双片叠加观察的规定。
D、当使用前屏小于或等于0.03厚度真空包装胶片时的规定。
3．按JB/T 4730.2－2005标准规定，在下列叙述中哪一条与公称厚度有关（ C ） A、关于曝光量的规定。
B、小径管圆形缺陷评定区尺寸的确定。
C、X射线照相时，允许最高管电压的规定。
D、底片评定范围内有关黑度值的规定。
4．JB/T 4730.2－2005标准中规定：采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，经合同各方同意，A级、AB级技术的Ir-192源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源的最小透照厚度可降至5mm，这一规定的主要目的是（ A ） A、现场大批量管子环焊缝透照，用γ射线机代替X射线机，从而大大降低现场工作难度。
B、由于其他透照方式比中心透照方式更容易实施。
C、可最大限度的减少散乱射线对底片的影像。
D、以上均是。
5．在下列叙述中，与JB/T 4730.2－2005标准规定相符合的是（ D ） A、γ射线照相，必须选用T2类以上胶片。
B、X射线照相时，对铝及铝合金材料，管电压的增量不应超过40kV。
C、透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时，AB级最低黑度允许降至1.5；
B级最低黑度允许降至2.0。
D、如使用中检测的工艺条件、环境未发生改变时，可以不进行背散射防护检查。
6．下面是对JB/T 4730.2－2005标准选用像质计规定的理解，不正确的是（ A ） A、对小径管透照时，必须选用专用像质计。
B、采用B级检测技术，当透照厚度＞2.5～4.0mm时应选用特殊型像质计。
C、应根据不同的检测技术级别，选用不同型号的像质计。
D、像质计的选用与透照方式和像质计的摆放位置有关。
7．按JB/T 4730.2－2005标准规定，当观察的底片黑度为3.2时，观片灯的亮度至少应不低于（ A ）。
A、20000 cd/m2 B、40000 cd/m2 C、60000 cd/m2 D、80000 cd/m2 8．下面是对JB/T4730.2－2005标准中关于小径管透照次数规定的理解，正确的是（ C ）。
A、规定小径管透照次数的主要目的是便于发现根部缺陷 B、规定小径管透照次数的主要目的是尽量增加可检出范围 C、规定小径管透照次数的主要目的是限制透照厚度比 D、以上均对 9．按JB/T 4730.2－2005标准B级检测技术的规定，采用源在外双壁单影方式100%透照Φ426×15mm的管子环向对接接头时，如果焦距为500mm，按标准附录D的图确定的最少透照次数为（ C ）。
A、4 B、5 C、6 D、14 10．下面是对JB/T 4730.2－2005标准表2中所规定内容的理解，正确的是（ C ）。
A、制作像质计的材料必须与被检工件的材料相同或相近 B、非钢铁金属材料射线照相可以使用铁像质计 C、低原子序数材料制作的像质计可用于高原子序数材料工件的照相 D、一般情况下像质计所用的材料与被检工件的材料无关 三、多项选择题（将所有认为正确答案的序号填在括号内，每题3分，共15分。注意：多填或少填均不得分） 1．按JB/T4730.2－2005标准规定，允许的透照厚度比K值与下列哪些因素有关？ （ A B D） A、与检测的技术级别有关。
B、与焊接接头的类别有关。
C、与透照的方式有关。
D、对环向焊接接头，则与工件的直径有关。
2．JB/T 4730.2－2005标准3.8.2和3.8.3条中均提到经检测方技术负责人批准，其含义是指（ A B C ）。
A、要求检测方严格执行标准条文的措施 B、企业（制造、安装或专业公司）在质量控制方面要有相应的程序和手续 C、检测单位应承担相关的责任 D、使用方（甲方）应与检测方的技术负责人达成一致意见 3．按JB/T 4730.2－2005标准规定，与确定底片像质计灵敏度无关的因素是 （ B C ）。
A、透照方式 B、底片的黑度 C、射源的种类 D、像质计摆放的位置 4．下面是对JB/T 4730.2－2005标准中有关高能X射线照相规定的理解，正确的是（A B C ）。
A、高能X射线的透照厚度范围与检测的技术级别有关 B、对不同能量的高能X射线规定了不同透照厚度的下限值 C、当采用大于12MeV的高能X射线照相时，不用后屏 D、高能X射线照相时可以采用T3类胶片 5．在JB/T 4730.2－2005标准关于质量分级的规定中，对不同材质焊接接头圆形缺陷评级的差异是（ B C D）。
A、对深孔缺陷的评级 B、圆形缺陷评定区的划分 C、圆形缺陷点数换算 D、各级别允许的圆形缺陷点数 五、工艺题（本题15分） 某制造厂为某炼油厂焦化装置预制的焦炭塔（二类压力容器）塔底渣油入口部件由拱形盖、拱形封头接口及弯管组合件组焊而成，结构如图1-1所示。拱形盖材质为15CrMoR，拱形封头接口、弯头及法兰材质为15CrMoⅢ级锻件。设计规定所有对接接头进行100%射线检测，执行JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测》，验收等级为Ⅱ级。
图1-1 焦炭塔底渣油入口部件结构示意图 拱形封头接口与弯管组合件对接焊接接头B1环向对接焊接接头采用氩弧焊打底手工电弧焊盖面，焊缝余高2mm，请制定B1环向对接焊接接头的射线检测工艺。
可提供的检测设备和材料有：RF200EG-S2型定向X射线机（焦点2×2mm）、Se-75γ射线探伤机（现有活度45Ci）和Ir-192γ射线探伤机（现有活度60Ci）；
天津Ⅲ型、Ⅴ型胶片（胶片规格为360×80mm、120×80mm）。曝光曲线见图1-2、图1-3。
请将射线检测工艺参数填写在提供的工艺卡中（见表1-1），并将射源放置、散射线屏蔽和像质计使用、标记摆放等技术要求填写在工艺卡说明栏中。
图1-2 RF200EG-S2型X射线机曝光曲线图 图1-3 Ir-192、Se-75曝光曲线图 注：以上曝光曲线图仅供解试题用表1-1 对接焊缝B1射线照相工艺卡 产品编号 F07-06-01 产品名称 焦炭塔底渣油入口部件 产品规格 Do325×22 产品材质 15CrMoⅢ 焊接方法 氩弧焊+手工电弧焊 执行标准 JB/T 4730.2-2005 照相技术级别 AB 验收等级 Ⅱ 探伤机型号 SETS-I(Se-75) 焦点尺寸(mm) 2.5×2.5 检测时机 焊接完成24小时后 胶片牌号 天津Ⅴ型 胶片规格(mm) 360×80 增感屏(mm) Pb0.1(前/后) 像质计型号 FeⅡ 像质计 灵敏度值 11号丝 底片黑度 2.0～4.0 显影液配方 天津Ⅴ型配方 显影时间 5～10min. 显影温度 20±2℃ 焊缝 编号 焊缝 长度 （mm） 检测 比例 （%） 透照 厚度 W （mm） 透照方式 焦距 F （mm） 一次透照长度 （mm） 透照次数 N 管电压kV 或 源活度Ci 曝光 时间 （min） B1 1020 100 22 中心周向透照 164.5 1020 1 45 1.1 透照布置示意图：
技术要求 及 说明 1． 采用中心定位器器使射线源焦点对准B1的圆心；
2． 像质计沿圆周每隔120°均匀分布放置在源侧工件表面，金属丝横跨B1焊缝；
3． 标记摆放：按通用工艺规程的规定；
4． 沿B1外壁搭接贴放三张胶片（搭接长度20mm），胶片暗盒应与工件表面贴紧，暗盒背面衬铅板屏蔽背散射。
编制（资格）：XXX（Ⅱ） 年 月 日 审核（资格）：XXX（Ⅲ） 年 月 日五、综合题（本题20分） 某无损检测公司承接了某炼油厂动力中心锅炉现场安装焊接接头的射线检测工程。该锅炉的主要技术参数为：额定蒸发量670t/h；
过热蒸汽温度540℃；
过热蒸汽压力13.7MPa；
给水温度240℃。锅炉的水冷壁为膜式屏结构，如图2-1所示，管子的规格为Φ60×6.5mm，材质为20g，鳍片宽度20mm。管子采用氩弧焊焊接，焊缝宽度为8mm，为便于焊接操作,在焊缝坡口附近的鳍片均留有25mm的间隙,待焊接完成并合格后焊补封闭。在A-A′片水冷壁装配施工中由于强力组装导致部分焊缝出现裂纹，监理指令对现场焊接的1～10号焊接接头进行100%射线检测。
图2-1 锅炉水冷壁焊接接头示意图 请回答以下问题：
1． 选择射线检测的透照方式并说明理由。
答：采用双壁双影倾斜透照方式椭圆成像。
由于Do=60，T=6.5＜8mm，Do/4=15,g=8mm＜Do/4，能满足JB/T4730.2-2005第4.1.4条规定，可以采用双壁双影倾斜透照方式椭圆成像。
2． 确定每个对接焊接接头的透照次数并说明理由。
答：可采用椭圆成像方式透照一次。
按JB/T4730.2-2005第4.1.5条规定，对T/DO=0.11＜0.12的小径管环向对接接头采用倾斜透照椭圆成像时，应相隔90°透照2次。但由于膜式水冷壁结构的对透照布置的限制，不能实现相隔90°两次透照，因此可采用椭圆成像方式透照一次。此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求。
3． 该检测公司拥有的射线检测设备和器材有：XXQ2505 X射线机和Se-75 γ射线探伤仪、Ir-192 γ射线探伤仪。请选择检测设备并说明理由。
答：选用Se-75射线探伤仪。因透照厚度W=13mm，相对于Ir-192，Se-75射线能量较低、线质适中，具有较高的灵敏度；
Se-75对小径管透照的灵敏度接近或达到X射线的质量，而有效检出范围又明显大于X射线的水平，且Se-75探伤仪在水冷壁安装现场操作更为方便。
4． 射线透照时应采取哪些有效措施扩大缺陷可检出范围，并保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求？ 答：选用高类别（T3类以上）的胶片；
适宜的源活度-曝光时间控制; 焦点尺寸控制（小焦点）;焦距的控制; 椭圆开口宽度控制;散射线控制; 底片黑度控制（1.5-4）。
5． 对于监理指定的这10个连续分布的焊接接头是否可以一次透照多个焊接接头？一次透照所包含的焊接接头数量应如何控制？ 答：一次透照可以包含多个焊接接头，但应控制一次透照包含焊接接头的数量，以满足焊接接头均处在均匀的射线透照场内，使底片上每个焊接接头的黑度和像质计灵敏度均符合JB/T 4730.2-2005标准的规定。
6． 对像质计的放置有何要求？ 答：像质计应放置在透照区最边缘的焊接接头射线源侧表面，金属丝横跨焊缝。当选用通用线型像质计时，应使细丝置于外侧。
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